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碳化硅檢測的顯微圖象法

文章出處:原創(chuàng)網(wǎng)責(zé)任編輯:劉坤尚作者:王曉曉人氣:-發(fā)表時(shí)間:2015-01-02 16:52:00【

  金蒙新材料使用的顯微圖象法包括顯微鏡、CCD攝像頭(或數(shù)碼像機(jī))、圖形采集卡、計(jì)算機(jī)等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的碳化硅顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中,由計(jì)算機(jī)對這些圖像進(jìn)行邊緣識別等處理,計(jì)算出每個黑碳化硅微粉和綠碳化硅微粉的顆粒的投影面積,根據(jù)等效投影面積原理得出每個顆粒的粒徑,再統(tǒng)計(jì)出所設(shè)定的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量,就可以得到粒度分布了。

  由于這種方法單次所測到的碳化硅微粉的顆粒個數(shù)較少,對同一個樣品可以通過更換視場的方法進(jìn)行多次測量來提高測試結(jié)果的真實(shí)性。除了進(jìn)行碳化硅微粉粒度測試之外,顯微圖象法還常用來觀察和測試碳化硅顆粒的形貌。

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