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碳化硅篩分法和電阻法檢測(cè)

文章出處:原創(chuàng)網(wǎng)責(zé)任編輯:劉坤尚作者:王曉曉人氣:-發(fā)表時(shí)間:2015-01-13 15:09:00【

  篩分法是一種最傳統(tǒng)的碳化硅粒度測(cè)試方法。它是使顆粒通過(guò)不同尺寸的篩孔來(lái)測(cè)試粒度的。篩分法分干篩和濕篩兩種形式,可以用單個(gè)篩子來(lái)控制單一粒徑碳化硅顆粒的通過(guò)率,也可以用多個(gè)篩子疊加起來(lái)同時(shí)測(cè)量多個(gè)粒徑顆粒的通過(guò)率,并計(jì)算出百分?jǐn)?shù)。篩分法有手工篩、振動(dòng)篩、負(fù)壓篩、全自動(dòng)篩等多種方式。顆粒能否通過(guò)篩幾與顆粒的取向和篩分時(shí)間等素因素有關(guān),不同的行業(yè)有各自的篩分方法標(biāo)準(zhǔn)。 4、電阻法: 電阻法又叫庫(kù)爾特法,是由美國(guó)一個(gè)叫庫(kù)爾特的人發(fā)明的一種粒度測(cè)試方法。這種方法是根據(jù)碳化硅微粉在通過(guò)一個(gè)小微孔的瞬間,占據(jù)了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導(dǎo)電液體,使小微孔兩端的電阻發(fā)生變化的原理測(cè)試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。

  當(dāng)不同大小的粒徑顆粒連續(xù)通過(guò)小微孔時(shí),小微孔的兩端將連續(xù)產(chǎn)生不同大小的電阻信號(hào),通過(guò)計(jì)算機(jī)對(duì)這些電阻信號(hào)進(jìn)行處理就可以得到粒度分布了。

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